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技术参数:
1、X射线发生器功率为3KW
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪半径300mm
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、最小步径0.0001度
6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)
7、高速探测器D/teX Ultra250(0维,1维模式)
8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)
7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包
8、视频观察系统
9、丰富的各种附件
主要特点
1、使用SmartLab Studio II软件,可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果,不需要任何经验,就可以得到高质量的分析结果。
2、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
3、可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
4、可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6.小角散射与纳米材料粒径分布
7. 微区样品的分析