理学X射线波长色散荧光光谱仪

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪，快速定量元素分析的高性能WDXRF！上照射式波长色散X射线荧光光谱仪ZSXPrimuIII+理学ZSXPrimuIII+提供主要和次要原子元素的快速定量测定，从氧（O）到铀（U）的最低标准的广泛样品类型。高度可靠性的上照射式光学系统ZSXPrimuIII+具有场新的上照射式光学配置。

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪，快速定量元素分析的高性能WDXRF！

上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

ZSX Primus III+
理学ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量测定，从氧（O）到铀（U）的最低标准的广泛样品类型。
高度可靠性的上照射式光学系统
ZSX Primus III+具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

高精度样品定位
高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置执行高精度分析，用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

SQX 基本参数软件与EZ扫描软件
用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件，快速提供最准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子（轻、超轻元素）、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。

上照射式波长色散X射线荧光光谱仪：
从O到U的元素分析
上照射式光学最小化污染
小占地面积节省实验室空间
高精度样品定位
特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误
统计过程控制（SPC）的软件工具
优化抽空和真空泄露率改善吞吐量

理学X射线波长色散荧光光谱仪

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